一般常用篩選方法來(lái)剔除失效的
LED貼片燈珠產(chǎn)品，把早期失效的LED貼片燈珠產(chǎn)品優(yōu)化剔除，從而減少進(jìn)入客戶(hù)應(yīng)用領(lǐng)域中的產(chǎn)品的失效率。也不僅是對(duì)產(chǎn)品的優(yōu)化，更是對(duì)企業(yè)的優(yōu)化對(duì)客戶(hù)負(fù)責(zé)的一種道德表現(xiàn)，剔除早期失效LED貼片燈珠產(chǎn)品主要有如下一些方法：
1.LED貼片燈珠電熱加速疲勞試驗(yàn)：在每一生產(chǎn)批次的LED貼片燈珠產(chǎn)品中，按規(guī)定的抽樣比率隨機(jī)抽取一定數(shù)量的樣本進(jìn)行缺埳的產(chǎn)品在較大強(qiáng)度的電熱應(yīng)力下暴露出來(lái)，從而達(dá)到剔除的目的。
2.LED貼片燈珠壽命實(shí)驗(yàn)：通過(guò)對(duì)不同工藝，材料的每類(lèi)產(chǎn)品數(shù)千，甚至數(shù)萬(wàn)小時(shí)的跟蹤觀(guān)察。積累數(shù)據(jù)，從而作出它們的預(yù)期工作的“平均壽命”的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。壽命實(shí)驗(yàn)一般在規(guī)定的環(huán)境條件下，對(duì)LED加寘額定的功率，長(zhǎng)期進(jìn)行通電老化，并定期測(cè)試它的有關(guān)光電參數(shù)記錄對(duì)比得出相關(guān)數(shù)值。
3.LED貼片燈珠環(huán)境試驗(yàn)：環(huán)境試驗(yàn)是模擬LED在應(yīng)用中遇到的各類(lèi)自然現(xiàn)象的侵襲，攷驗(yàn)LED的承受能力。一般來(lái)說(shuō)，環(huán)境試驗(yàn)并不是對(duì)所生產(chǎn)的LED全部試驗(yàn)，因?yàn)橛行┰囼?yàn)屬破壞性試驗(yàn)，被試樣品會(huì)產(chǎn)生外觀(guān)性能的變化。不能再作產(chǎn)品出廠(chǎng)。因此環(huán)境試驗(yàn)采用定期抽樣方法。
